揭秘:如何测试射频有源器件

  射频器件是射频信号链中的有源元件,已用于除纯无源系统外的几乎所有射频系统。有源射频器件与无源射频器件的不同之处在于,有源射频器件使用电功率或电气控制信号为器件供电并改变其性能。在许多情况下,对于放大器和混频器偏置,有源射频器件需要直接通电才能发挥作用。

  测试有源器件通常比测试无源器件更复杂。对某些类型的测试,有源器件的输入和输出信号可能会超过常见测试器件的性能阈值,例如信号发生器、频谱/信号分析仪、矢量网络分析仪和功率计。在这一些状况下,除了基本测试器件外,还能够正常的使用放大器或衰减器将信号功率降低到器件的安全水平,或者将被测器件(DUT)的射频信号增强到实测所需的水平。

  如果使用非常高的功率水平,衰减器可能不足以完全保护下游的敏感测试设备,而定向耦合器可能被用于实现从高功率信号路径的功率降低(隔离),该路径可能终止于高功率终端。

  有许多有源器件也都是非线性。这提出了在测试时尤其要考虑的其它因素,特别是在大功率和高频状态下,在这些状态下与线性行为相比,器件性能的非线性方面可能会很重要。VNA进行的S参数测量只能描述器件对小信号的响应,在这种情况下,器件的行为很可能近似于在静态工作点(通常为DC偏置电压下工作的线性分量。)在这一些状况下,可以能够具有测量X参数的VNA。具备X参数功能的VNA能够测量器件性能的线性和非线性方面,并在X参数文件中包含非线性信息,例如,器件在置于大信号情况下时产生的幅度和相位失真。

  在其它情况下,器件的实际阻抗可能在器件的所有工作条件下都是未知的。对于高功率放大器,为了确认和保证有效的传输和最佳的线性度,有必要了解此阻抗,以使其与下游电子设备和天线实现最佳匹配。在高功率放大器和高功率电子设备中尤其如此,在这些设备中,当信号反射到器件的输出端时,即使是很小的反射也会造成损失破坏,或者形成电压足以改变器件行为的驻波。这时需要采用负荷拉力测试。负荷拉力是一项测量技术,在器件的输入或输出口阻抗可变时,可以观察器件的性能参数。负荷拉力测试的最终目标通常是表征器件,并找到给定输出阻抗的最佳工作点。

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